INSPEKTION OCH FÖRPACKNING AV SVETSDIOD I ZW-SERIEN

Kort beskrivning:

Denna inspektions- och paketstandard är tillämplig påsvetsdiodermed en nominell framåtmedelström på 7100A ~ 18000A.


Produktdetalj

Produkttaggar

Testmetoder och inspektionsregler

1. Batch-by-batch-inspektion (Grupp A-inspektion)

Varje parti av produkter bör inspekteras enligt tabell 1, och alla artiklar i tabell 1 är oförstörande.

Tabell 1 Inspektion per batch

Grupp InspektionArtikel

Inspektionsmetod

Kriterium

AQL (Ⅱ)

A1

Utseende Visuell inspektion (under normala ljus- och synförhållanden) Logotypen är klar, ytbeläggning och plätering är fria från flagning och skador.

1.5

A2a

Elektriska egenskaper 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) i JB/T 7624—1994 Polaritet omvänd:VFM>10USL

IRRM>100USL

0,65

A2b

VFM 4.1(25℃) i JB/T 7624—1994 Klagomål till kraven

1.0

IRRM 4.4.3 (25℃,170℃) i JB/T 7624—1994 Klagomål till kraven
Obs: USL är maxgränsvärdet.

2. Periodisk inspektion (grupp B och grupp C inspektion)

Enligt tabell 2 ska de färdiga produkterna i normal produktion besiktigas minst ett parti av grupp B och grupp C varje år, och kontrollartiklarna märkta med (D) är destruktiva tester.Om den första inspektionen är okvalificerad kan ytterligare provtagning inspekteras på nytt enligt bilaga Tabell A.2, men endast en gång.

Tabell 2 Periodisk inspektion (Grupp B)

Grupp InspektionArtikel

Inspektionsmetod

Kriterium

Provtagningsplan
n Ac
B5 Temperaturcykling (D) följt av tätning
  1. Två-box-metod, -40 ℃, 170 ℃ cykel 5 gånger, exponering för hög och låg temperatur i 1 timme i varje cykel, överföringstid (3-4) minuter.
  2. Metod för att upptäcka läckage av fluorolja under tryck.
Mätning efter test:VFM≤1,1USL

IRRM≤2USL

inte läckage

6 1
CRRL   Ge kortfattat de relevanta attributen för varje grupp, VFM och jagRRMvärden före och efter testet och testets slutsats.

3. Identifikationsinspektion (grupp D-inspektion)

När produkten är färdigbearbetad och sätts i produktionsbedömning bör, förutom A, B, C gruppbesiktningarna, även D-grupptestet göras enligt Tabell 3, och inspektionsobjekten markerade med (D) är destruktiva tester.Normal produktion av färdiga produkter ska testas minst ett parti av grupp D vart tredje år.

Om den första inspektionen misslyckas kan ytterligare provtagning inspekteras på nytt enligt bilaga tabell A.2, men endast en gång

Tabell 3 Identifieringstest

No

Grupp InspektionArtikel

Inspektionsmetod

Kriterium

Provtagningsplan
n Ac

1

D2 Termisk cykelbelastningstest Cykeltider: 5000 Mätning efter test:VFM≤1,1USL

IRRM≤2USL

6

1

2

D3 Stöt eller vibration 100g: håll 6ms, halvsinusvågform, två riktningar med 3 ömsesidigt vinkelräta axlar, 3 gånger i varje riktning, totalt 18 gånger.20g: 100~2000Hz, 2h i varje riktning, totalt 6h.

Mätning efter test: VFM≤1,1USL

IRRM≤2USL

6

1

CRRL

  Ge kortfattat relevanta attributdata för varje grupp, VFM , IRRMoch jagDRMvärden före och efter testet och testets slutsats.

 

Märkning och förpackning

1. Markera

1.1 Märkning på produkten inkluderar

1.1.1 Produktnummer

1.1.2 Terminalidentifieringsmärke

1.1.3 Företagsnamn eller varumärke

1.1.4 Identifikationskod för inspektionspartiet

1.2 Logotyp på kartongen eller bifogad instruktion

1.2.1 Produktmodell och standardnummer

1.2.2 Företagsnamn och logotyp

1.2.3 Fuktsäkra och regnsäkra skyltar

1.3 Paket

Produktförpackningskrav bör överensstämma med inhemska bestämmelser eller kundkrav

1.4 Produktdokument

Produktmodell, implementeringsstandardnummer, särskilda elektriska prestandakrav, utseende etc. bör anges på dokumentet.

Desvetsdiodproducerad av Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor används i stor utsträckning i motståndssvetsare, medel- och högfrekventa svetsmaskiner upp till 2000Hz eller högre.Med en ultralåg framåtspänning, ultralågt termiskt motstånd, toppmodern tillverkningsteknik, utmärkt substitutionsförmåga och stabil prestanda för globala användare, är svetsdioden från Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor en av Kinas mest pålitliga enheter halvledarprodukter.


  • Tidigare:
  • Nästa:

  • Skriv ditt meddelande här och skicka det till oss