INSPEKTION OCH FÖRPACKNING AV SVETSDIOD I ZW-SERIEN
Testmetoder och inspektionsregler
1. Batch-by-batch-inspektion (Grupp A-inspektion)
Varje parti av produkter bör inspekteras enligt tabell 1, och alla artiklar i tabell 1 är oförstörande.
Tabell 1 Inspektion per batch
| Grupp | InspektionArtikel | Inspektionsmetod | Kriterium | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Utseende | Visuell inspektion (under normala ljus- och synförhållanden) | Logotypen är klar, ytbeläggning och plätering är fria från flagning och skador. | 1.5 |
| A2a | Elektriska egenskaper | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) i JB/T 7624—1994 | Polaritet omvänd:VFM>10USL IRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) i JB/T 7624—1994 | Klagomål till kraven | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) i JB/T 7624—1994 | Klagomål till kraven | ||
| Obs: USL är maxgränsvärdet. | ||||
2. Periodisk inspektion (grupp B och grupp C inspektion)
Enligt tabell 2 ska de färdiga produkterna i normal produktion besiktigas minst ett parti av grupp B och grupp C varje år, och kontrollartiklarna märkta med (D) är destruktiva tester.Om den första inspektionen är okvalificerad kan ytterligare provtagning inspekteras på nytt enligt bilaga Tabell A.2, men endast en gång.
Tabell 2 Periodisk inspektion (Grupp B)
| Grupp | InspektionArtikel | Inspektionsmetod | Kriterium | Provtagningsplan | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Temperaturcykling (D) följt av tätning |
| Mätning efter test:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL inte läckage | 6 | 1 |
| CRRL | Ge kortfattat de relevanta attributen för varje grupp, VFM och jagRRMvärden före och efter testet och testets slutsats. | ||||
3. Identifikationsinspektion (grupp D-inspektion)
När produkten är färdigbearbetad och sätts i produktionsbedömning bör, förutom A, B, C gruppbesiktningarna, även D-grupptestet göras enligt Tabell 3, och inspektionsobjekten markerade med (D) är destruktiva tester.Normal produktion av färdiga produkter ska testas minst ett parti av grupp D vart tredje år.
Om den första inspektionen misslyckas kan ytterligare provtagning inspekteras på nytt enligt bilaga tabell A.2, men endast en gång
Tabell 3 Identifieringstest
| No | Grupp | InspektionArtikel | Inspektionsmetod | Kriterium | Provtagningsplan | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Termisk cykelbelastningstest | Cykeltider: 5000 | Mätning efter test:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Stöt eller vibration | 100g: håll 6ms, halvsinusvågform, två riktningar med 3 ömsesidigt vinkelräta axlar, 3 gånger i varje riktning, totalt 18 gånger.20g: 100~2000Hz, 2h i varje riktning, totalt 6h. | Mätning efter test: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Ge kortfattat relevanta attributdata för varje grupp, VFM , IRRMoch jagDRMvärden före och efter testet och testets slutsats. | |||||
Märkning och förpackning
1. Markera
1.1 Märkning på produkten inkluderar
1.1.1 Produktnummer
1.1.2 Terminalidentifieringsmärke
1.1.3 Företagsnamn eller varumärke
1.1.4 Identifikationskod för inspektionspartiet
1.2 Logotyp på kartongen eller bifogad instruktion
1.2.1 Produktmodell och standardnummer
1.2.2 Företagsnamn och logotyp
1.2.3 Fuktsäkra och regnsäkra skyltar
1.3 Paket
Produktförpackningskrav bör överensstämma med inhemska bestämmelser eller kundkrav
1.4 Produktdokument
Produktmodell, implementeringsstandardnummer, särskilda elektriska prestandakrav, utseende etc. bör anges på dokumentet.
Desvetsdiodproducerad av Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor används i stor utsträckning i motståndssvetsare, medel- och högfrekventa svetsmaskiner upp till 2000Hz eller högre.Med en ultralåg framåtspänning, ultralågt termiskt motstånd, toppmodern tillverkningsteknik, utmärkt substitutionsförmåga och stabil prestanda för globala användare, är svetsdioden från Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor en av Kinas mest pålitliga enheter halvledarprodukter.